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http://hdl.handle.net/1843/34383| Type: | Monografia (especialização) |
| Title: | O uso alternado de duas cartas de controle X-bar com tamanhos amostrais diferentes |
| Authors: | Sérgio Henrique Junqueira Meirelles Paiva |
| First Advisor: | Roberto da Costa Quinino |
| First Referee: | Anderson Laécio Galindo Trindade |
| Second Referee: | Altieres Marçal Frade |
| Abstract: | A prática usual no uso de cartas de controle X̅ para monitorar a média de um processo consiste em coletar amostras de tamanho n em intervalos igualmente espaçados e comparar com limites de controle. O objetivo deste trabalho é propor um modelo alternativo, chamado carta de controle com tamanho amostral variável (CCTV), no qual duas cartas de controle X̅ tradicionais são usados alternadamente com amostras de tamanhos n1 e n2. Os resultados obtidos por simulação de Monte Carlo mostram que a carta de controle CCTV proposta pode apresentar melhor desempenho, em termos de Average Run Lengths (ARL), do que a tradicional carta de controle X̅. |
| Abstract: | The usual practice in using X̅ control charts to monitor the mean of a process consists of taking at equally intervals samples of size n and compare with control limits. The purpose of this article is to propose an alternative model, called variable sample size (VSS) control chart, in which two traditional X̅ control charts are used alternately with samples of sizes n1 and n2. The obtained results by Monte Carlo simulation show that the proposed VSS control chart can perform better, in terms of Average Run Lengths (ARL), than the traditional X̅ control chart. |
| Subject: | Estatística Controle de qualidade Método de Monte Carlo Amostra de tamanho variável |
| language: | por |
| metadata.dc.publisher.country: | Brasil |
| Publisher: | Universidade Federal de Minas Gerais |
| Publisher Initials: | UFMG |
| metadata.dc.publisher.department: | ICX - DEPARTAMENTO DE ESTATÍSTICA |
| metadata.dc.publisher.program: | Programa de Pós-Graduação em Estatística |
| Rights: | Acesso Aberto |
| URI: | http://hdl.handle.net/1843/34383 |
| Issue Date: | 26-Jun-2020 |
| Appears in Collections: | Especialização em Estatística |
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