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http://hdl.handle.net/1843/50414
Tipo: | Tese |
Título: | Uma contribuição à descrição teórica do espalhamento Raman de campo-próximo |
Autor(es): | Bruno Carvalho Públio |
Primeiro Orientador: | Luiz Gustavo de Oliveira Lopes Cançado |
Primeiro Coorientador: | Ado Jorio de Vasconcelos |
Primeiro membro da banca : | Ricardo Rego Bordalo Correia |
Segundo membro da banca: | Ubirajara Agero Batista |
Terceiro membro da banca: | Leonardo de Souza Menezes |
Quarto membro da banca: | Sebastião José Nascimento de Pádua |
Resumo: | O processo de espalhamento em espectroscopia Raman – TERS, do inglês tip-enhanced Raman spectroscopy – pode ocorrer em distintas maneiras, dependendo do número de eventos de interação e suas respectivas sequências temporais. Esses eventos são fundamen- talmente descritos pela interação do campo de radiação com a nanoestrutura plasmônica que gera a melhora local do campo, ou com o próprio meio espalhador. As interações são historicamente denominadas como T, em referência à interação campo-ponta (do inglês tip), e S, em referência à interação campo-amostra (do inglês sample). A intensidade TERS foi analiticamente derivada para os termos ST e TST no trabalho Phys. Rev. X 4, 031054 (2014). Aqui nós fornecemos uma contribuição ao desenvolvimento da teoria de TERS pela apresentação de uma compreensiva descrição do processo físico e os passos matemáticos para a obtenção da expressão analítica que contabiliza a intensidade TERS relatada para o termo TS em sistemas unidimensionais e bidimensionais. |
Abstract: | The scattering process in tip-enhanced Raman spectroscopy (TERS) can occur in distinct ways, depending on the number of interaction events and their respective time sequences. These events are fundamentally described by the interaction of the radiation field with the plasmonic nanostructure that generates local enhancement, or with the scattering medium itself. The interactions are historically denominated as T, in reference to field-tip interaction, and S, referencing field-sample interaction. The TERS intensity was analytically derived for the ST and TST terms in Phys. Rev. X 4, 031054 (2014). Here we provide further development on the TERS theory by presenting a comprehensive description of the physical picture and the mathematical steps for the obtention of analytical expressions that account for the TERS intensity related to the TS term for one- and two-dimensional samples. |
Assunto: | Espalhamento Espectroscopia de Raman |
Idioma: | por |
País: | Brasil |
Editor: | Universidade Federal de Minas Gerais |
Sigla da Instituição: | UFMG |
Departamento: | ICX - DEPARTAMENTO DE FÍSICA |
Curso: | Programa de Pós-Graduação em Física |
Tipo de Acesso: | Acesso Aberto |
URI: | http://hdl.handle.net/1843/50414 |
Data do documento: | 14-Jul-2022 |
Aparece nas coleções: | Teses de Doutorado |
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