Use este identificador para citar o ir al link de este elemento: http://hdl.handle.net/1843/69315
Tipo: Tese
Título: Tip-enhanced Raman spectroscopy and photoluminescence in two-dimensional systems
Título(s) alternativo(s): Espectroscopia Raman e fotoluminescência amplificada por sonda em sistemas bidimensionais
Autor(es): Rafael Battistella Nadas
primer Tutor: Ado Jorio de Vasconcelos
primer Co-tutor: Luiz Gustavo de Oliveira Lopes Cançado
primer miembro del tribunal : Vincent Meunier
Segundo miembro del tribunal: Sebastian Daniel Heeg
Tercer miembro del tribunal: Wagner Nunes Rodrigues
Cuarto miembro del tribunal: Mauricio Terrones Maldonado
Quinto miembro del tribunal: Lukas Novotny
Resumen: Two-dimensional (2D) materials, characterized by their properties emerging from their atomic-scale thickness, crystal structure, and surface properties, have raised significant attention in the scientific community due to their diverse range of applications across numerous fields, including electronics, optoelectronics, catalysis, and energy storage. In order to fully explore their potentials, it is important to study such materials and Raman spectroscopy and photoluminescence have been widely used to investigate them. However, these techniques have a fundamental spatial resolution limit, since the minimum distance that one can distinguish two emitters of light is dictated by the wavelength of the light used to illuminate. Therefore, if one uses visible light, it is not possible to probe nanometric features of such materials through these techniques. Tip-enhanced Raman spectroscopy (TERS) and tip-enhanced photoluminescence (TEPL) overcome this fundamental limit by approximating an optical antenna to the sample, accessing the non-propagating (near field) signal coming from a sample. Now, the resolution limit is not constrained by the light used, but by the tip's radius, enabling the study of nanometric features with visible light, including related coherence phenomena in the TERS signal of graphene, as well as for transition metal dichalcogenides (TMDs). In this thesis, coherent TERS is used to measure the coherence length (Lc) of the Raman scattering process in graphene as a function of Fermi energy. Lc decreases when the Fermi energy is moved into the neutrality point, consistent with the concept of the Kohn anomaly. Once the Raman process involves both electrons and phonons, the observed results can be understood either as due to an unusually large variation of the longitudinal optical phonon group velocity, vg, reaching unprecedented high values for optical phonons, or due to changes in the electron energy uncertainty, both properties being important for optical and transport phenomena that might not be observable by any other technique. This near field coherence is also probed for the transition metal dichalcogenides TMDs MoS2, WS2, MoSe2 and WSe2, showing that different TMDs present different values of Raman coherence length. Furthermore, the spatial resolution achieved with optically active tips enabled the examination of specific effects within TMDs, such as grain boundaries in CVD-grown MoS2, wrinkles in WS2 and MoSe2, and the substrate's impact on TERS and TEPL spectra of MoSe2, and identifying localized defects in WSe2. Finally, an attempt to measure moiré features in twisted bilayer TMDs is done, but nanometric size bubbles are brighter emitters, shadowing any moiré feature on the measurements.
Abstract: Materiais bidimensionais (2D), caracterizados por propriedades emergentes de sua espessura em escala atômica, estrutura cristalina e propriedades de superfície, têm atraído considerável atenção na comunidade científica devido à ampla gama de aplicações em diversos campos, incluindo eletrônica, optoeletrônica, catálise e armazenamento de energia. Para explorar plenamente o potencial desses materiais, é importante estudá-los, e a espectroscopia Raman e a fotoluminescência têm sido amplamente utilizadas para investigá-los. No entanto, essas técnicas possuem um limite fundamental de resolução espacial, segundo o qual, a menor distância que se pode distinguir entre dois emissores de luz, é ditada pelo comprimento de onda da luz usada para iluminar. Mais especificamente, se a luz visível for usada, não é possível investigar características nanométricas desses materiais por meio dessas técnicas. A espectroscopia Raman amplificada por ponta (TERS) e a fotoluminescência amplificada por ponta (TEPL) ajudam a superar esse limite fundamental ao aproximar uma antena opticamente ativa da amostra, acessando o sinal não propagante proveniente da amostra (campo próximo). Neste caso, o limite de resolução não é mais limitado pela luz usada, mas pelo raio da ponta, permitindo o estudo de características nanométricas com luz visível. Uma dessas características são os fenômenos de coerência no sinal TERS do grafeno, assim como para os dicalcogenetos de metais de transição (TMDs). Nesta tese, é utilizado TERS coerente para medir o comprimento de coerência (Lc) do processo de espalhamento Raman no grafeno como função da energia de Fermi. Lc diminui quando a energia de Fermi é movida para o ponto de neutralidade, consistente com o conceito de anomalia de Kohn. Uma vez que o processo Raman envolve elétrons e fonons, os resultados observados podem ser entendidos como devido a uma variação grande da velocidade de grupo dos fônons ópticos, vg, atingindo valores excepcionalmente altos para estes, ou devido a mudanças na incerteza da energia do elétron, ambas as propriedades sendo importantes para fenômenos ópticos e de transporte que podem não ser observáveis por qualquer outra técnica. Essa coerência de campo próximo também é investigada para os TMDs MoS2, Ws2, MoSe2 e WSe2, mostrando que diferentes TMDs apresentam diferentes valores de comprimento de coerência Raman. Além disso, a resolução espacial alcançada com as pontas opticamente ativas permitiu a investigação de efeitos específicos dentro dos TMDs, como a investigação de fronteiras de grãos em MoS2 crescidos por CVD, variações no TERS dentro de rugas de WS2 e MoSe2, do impacto do substrato nos espectros de TERS e TEPL de MoSe2 e identificação de defeitos localizados em WSe2. Finalmente, é feita uma tentativa de medir padrões de moiré em TMDs de bicamadas rodadas, mas bolhas nanométricas são emissores intensos, obscurecendo quaisquer características de moiré nas medições.
Asunto: Espectroscopia de Raman
Fotoluminescência
Grafeno
Idioma: eng
País: Brasil
Editor: Universidade Federal de Minas Gerais
Sigla da Institución: UFMG
Departamento: ICX - DEPARTAMENTO DE FÍSICA
Curso: Programa de Pós-Graduação em Física
Tipo de acceso: Acesso Aberto
metadata.dc.rights.uri: http://creativecommons.org/licenses/by/3.0/pt/
http://creativecommons.org/licenses/by/3.0/pt/
URI: http://hdl.handle.net/1843/69315
Fecha del documento: 18-abr-2024
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