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http://hdl.handle.net/1843/IACO-75VR9A| Type: | Dissertação de Mestrado |
| Title: | Determinação da estrutura atômica da superfície (001) de FeO e InSb via difração de elétrons |
| Authors: | Elton Luz Lopes |
| First Advisor: | Vagner Eustaquio de Carvalho |
| First Co-advisor: | Edmar Avellar Soares |
| First Referee: | Bismarck Vaz da Costa |
| Second Referee: | Carlos Basilio Pinheiro |
| Third Referee: | Maria Carolina de Oliveira Aguiar |
| Abstract: | Este trabalho trata da determinação da estrutura atômica de dois sistemas específicos. O primeiro consistiu de um filme de FeO monocristalino de 22 monocamadas de espessura crescido em substrato de Ag na direção [001]. A análise estrutural foi feita através da difração de elétrons de baixa energia (LEED) e mostrou uma superfície (001) com parâmetro de rede igual ao que é esperado para a estrutura volumétrica do óxido, mas com um pequeno desnível (rumple) dos átomos da superfície (3.9% do parâmetro de rede) com os átomos de oxigênio movendo para fora do cristal. O segundo sistema estudado envolveu as reconstruções c(8x2) e c(4x4) da face (001) do composto semicondutor InSb, bem como a adsorção de átomos de paládio sobre a superfície. Para esses estudos foi usada a difração de fotoelétrons (PED) e XPS. Devido à necessidade de longo tempo para a realização dos cálculos não foi possível chegar a um resultado conclusivo sobre as estruturas examinadas e assim, apenas uma análise parcial dos dados experimentais é apresentada. |
| Abstract: | S |
| Subject: | Propriedades de superfície Física de superfícies Estrutura atômica Semicondutores Difração de elétrons |
| language: | Português |
| Publisher: | Universidade Federal de Minas Gerais |
| Publisher Initials: | UFMG |
| Rights: | Acesso Aberto |
| URI: | http://hdl.handle.net/1843/IACO-75VR9A |
| Issue Date: | 12-Mar-2007 |
| Appears in Collections: | Dissertações de Mestrado |
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