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http://hdl.handle.net/1843/IACO-7KURB6
Type: | Dissertação de Mestrado |
Title: | Estudo da injeção de carga em nanotubos de carbono por microscopia de força elétrica |
Authors: | Ana Paula Moreira Barboza |
First Advisor: | Bernardo Ruegger Almeida Neves |
First Referee: | Elmo Salomão Alves |
Second Referee: | Marcos Assuncao Pimenta |
Abstract: | Neste trabalho, serão apresentados os resultados obtidos no Laboratório de Nanoscopia e no Laboratório de Espectroscopia Raman - DF/UFMG a respeito das propriedades elétricas de nanotubos de carbono de parede simples ^Ö CNT investigados por injeção de carga, Microscopia de Força Elétrica (EFM), Espectroscopia Raman e cálculos por primeiros princípios. As injeções de carga foram realizadas pressionando um dado nanotubo com a ponta de EFM com respeito ao substrato. A transferência de carga foi então, caracterizada por EFM, através de um mapeamento da distribuição espacial de cargas e campo elétrico em escala nanométrica ao longo do nanotubo. Simultaneamente empregamos técnicas de Espectroscopia Raman, capazes de distinguir o caráter metálico ou semicondutor dos nanotubos isolados, antes da realização dos experimentos. O resultado mais interessante foi obtido em experimentos de força. Enquanto em um nanotubo metálico o sinal elétrico possui uma pequena dependência com a força aplicada durante a injeção, nanotubos semicondutores apresentam um comportamento diferente: abaixo de um certo limiar de força, não é possível realizar a injeção de carga, mas acima desse limiar, a injeção cresce rapidamente até atingir a densidade de carga de um nanotubo metálico. Os resultados experimentais concordaram quantitativamente com cálculos por primeiros princípios, os quais mostram que a injeção de carga em nanotubos semicondutores, para baixas diferenças de potencial, é dependente da força que produz a deformação do tubo. A densidade máxima de carga satura quando a força aplicada induz, por causa da deformação, uma transição local semicondutor-metal. |
Abstract: | S |
Subject: | Propriedades eletricas dos metais e semi-metais Microscopia de varredura por sonda Raman, Espectroscopia de Nanotubos de carbono Transição semicondutor-metal Física Nanodispositivos eletrônicos |
language: | Português |
Publisher: | Universidade Federal de Minas Gerais |
Publisher Initials: | UFMG |
Rights: | Acesso Aberto |
URI: | http://hdl.handle.net/1843/IACO-7KURB6 |
Issue Date: | 29-Feb-2008 |
Appears in Collections: | Dissertações de Mestrado |
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