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http://hdl.handle.net/1843/IACO-7KURB6| Tipo: | Dissertação de Mestrado |
| Título: | Estudo da injeção de carga em nanotubos de carbono por microscopia de força elétrica |
| Autor(es): | Ana Paula Moreira Barboza |
| primer Tutor: | Bernardo Ruegger Almeida Neves |
| primer miembro del tribunal : | Elmo Salomão Alves |
| Segundo miembro del tribunal: | Marcos Assuncao Pimenta |
| Resumen: | Neste trabalho, serão apresentados os resultados obtidos no Laboratório de Nanoscopia e no Laboratório de Espectroscopia Raman - DF/UFMG a respeito das propriedades elétricas de nanotubos de carbono de parede simples ^Ö CNT investigados por injeção de carga, Microscopia de Força Elétrica (EFM), Espectroscopia Raman e cálculos por primeiros princípios. As injeções de carga foram realizadas pressionando um dado nanotubo com a ponta de EFM com respeito ao substrato. A transferência de carga foi então, caracterizada por EFM, através de um mapeamento da distribuição espacial de cargas e campo elétrico em escala nanométrica ao longo do nanotubo. Simultaneamente empregamos técnicas de Espectroscopia Raman, capazes de distinguir o caráter metálico ou semicondutor dos nanotubos isolados, antes da realização dos experimentos. O resultado mais interessante foi obtido em experimentos de força. Enquanto em um nanotubo metálico o sinal elétrico possui uma pequena dependência com a força aplicada durante a injeção, nanotubos semicondutores apresentam um comportamento diferente: abaixo de um certo limiar de força, não é possível realizar a injeção de carga, mas acima desse limiar, a injeção cresce rapidamente até atingir a densidade de carga de um nanotubo metálico. Os resultados experimentais concordaram quantitativamente com cálculos por primeiros princípios, os quais mostram que a injeção de carga em nanotubos semicondutores, para baixas diferenças de potencial, é dependente da força que produz a deformação do tubo. A densidade máxima de carga satura quando a força aplicada induz, por causa da deformação, uma transição local semicondutor-metal. |
| Abstract: | S |
| Asunto: | Propriedades eletricas dos metais e semi-metais Microscopia de varredura por sonda Raman, Espectroscopia de Nanotubos de carbono Transição semicondutor-metal Física Nanodispositivos eletrônicos |
| Idioma: | Português |
| Editor: | Universidade Federal de Minas Gerais |
| Sigla da Institución: | UFMG |
| Tipo de acceso: | Acesso Aberto |
| URI: | http://hdl.handle.net/1843/IACO-7KURB6 |
| Fecha del documento: | 29-feb-2008 |
| Aparece en las colecciones: | Dissertações de Mestrado |
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