Abordagem para monitoramento tecnológico e investigação de potencial de mercado em um centro de tecnologia em nanomateriais

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Universidade Federal de Minas Gerais

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Dissertação de mestrado

Título alternativo

Procedure to technological monitoring and study of market potential in a technology center for nanomaterials

Primeiro orientador

Membros da banca

Rodrigo Lassarote Lavall
Leonel Del Rey de Melo Filho

Resumo

Estudos de tendências e de prospecção tecnológica têm sido utilizados como ferramenta para informar decisões estratégicas em organizações há décadas. Dentre os métodos consolidados, o Roadmapping se destaca pela sua flexibilidade e apelo gráfico, enquanto a patentometria é uma técnica útil para extrair informações de grandes quantidades de dados de patentes. Inspirado no Roadmapping e na patentometria, este trabalho propõe uma abordagem de monitoramento tecnológico e mercadológico para um centro de tecnologia (CTNano / UFMG), baseada em estudos de patentes e documentos de mercado. As informações obtidas nesses estudos são combinadas em um mapa que apresenta possíveis caminhos de atuação do Centro em nível estratégico, visando difusão da tecnologia para a sociedade e geração de valor para a organização. Um teste piloto dessa abordagem é realizado com uma tecnologia de filamentos poliméricos nanoestruturados para impressoras tipo fused deposition modeling (FDM). No mapa construído são identificados dois focos potenciais de atuação para o CTNano: (i) tentativa de licenciamento do depósito de patente já efetuado junto a fabricantes de insumos para impressoras FDM que se destacaram nos estudos realizados e (ii) prospecção de projetos envolvendo clientes finais interessados no uso de materiais para manufatura aditiva em contextos de produção industrial, potencialmente aproveitando o posicionamento de mercado conquistado com o licenciamento anterior para ganhar tração nesta iniciativa. Ao final, o texto traz implicações da proposta para a gestão do CTNano e para a prática de análise de futuros para tecnologias no contexto de novos materiais.

Abstract

Trend and technological prospecting studies have been used as a tool to inform strategic decisions in organizations for decades. Among the consolidated methods, Roadmapping stands out for its flexibility and graphic appeal, while patent analysis is a useful technique for extracting information from large amounts of patent data. Inspired by Roadmapping and patent analysis, this work proposes a procedure to technological and market monitoring for a technology center (CTNano / UFMG), based on studies of patent and market documents. The information obtained in these studies is combined in a map that presents possible paths for the Center to act at a strategic level, aiming at disseminating the technology to society and generating value for the organization. A pilot test of this procedure is carried out with a technology of nanostructured polymeric filaments for fused deposition modeling (FDM) printers. In the designed map, two potential areas of activity for CTNano are identified: (i) an attempt to license the patent already deposited with manufacturers of materials for FDM printers that stood out in the studies and (ii) prospection of projects involving end customers interested in the use of materials for additive manufacturing in industrial production contexts, potentially taking advantage of the market position achieved with the previous licensing to propel this initiative. At the end, the text brings implications of the procedure for the management of CTNano and for the practice of future analysis for technologies in the context of new materials.

Assunto

Tecnologia, Monitoramento, Pesquisa de mercado, Nanoestruturas

Palavras-chave

Estudos de Futuro para Tecnologia, Filamentos nanoestruturados, Manufatura FDM, Patentometria, Roadmapping, Future-oriented Technology Analyses, Nanostructured filaments, FDM manufacturing, Patent analysis, Roadmapping

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