1. Repositório Institucional da UFMG
  2. Trabalhos Acadêmicos
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  4. Pós-Graduação em Física
  5. Dissertações de Mestrado
Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/1843/77166
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dc.contributor.advisor1Ângelo Malachias de Souzapt_BR
dc.contributor.advisor1Latteshttp://lattes.cnpq.br/8428074335454256pt_BR
dc.contributor.advisor-co1Rogerio Magalhães Paniagopt_BR
dc.contributor.referee1Lívia Siman Gomespt_BR
dc.contributor.referee2Karolline Aparecida de Souza Araújopt_BR
dc.creatorNícolas Paulo Pereira Vasconcelospt_BR
dc.creator.Latteshttp://lattes.cnpq.br/6015887835534634pt_BR
dc.date.accessioned2024-10-03T16:21:02Z-
dc.date.available2024-10-03T16:21:02Z-
dc.date.issued2023-10-06-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/1843/77166-
dc.description.abstractNanoestruturas são objetos físicos com grande razão superfície/volume, com uma ou mais dimensões na escala nanométrica. Um importante exemplo dessas estruturas são os materiais bidimensionais, como o Grafeno, Bi2Te3, CeO2, etc. Com uma amostra de Óxido de Cério em substrato de HOPG obtida por deposição por laser pulsado (PLD) é possível observar nanoestruturas. Através de técnicas que utilizam o Microscópio de Tunelamento por Varredura (STM) em determinadas tensões é possível obter imagens das respectivas nanoestruturas a uma específica condição de densidade de estados local. Isso nos permite estudar os fenômenos eletrônicos do material e suas interações com o substrato. Através do uso de técnicas de filtragem e processamento de imagem, tais como Wavelets e Transformadas de Fourier, é possível melhorar significativamente a qualidade de imagens de nanoestruturas, permitindo que um estudo mais aprofundado das características de superfície seja realizado. Essa melhoria é crucial já que pode ser utilizada para aumentar o contraste de respostas eletrônicas/magnéticas/eletrostáticas em imagens de STM e AFM (Microscópio de Força Atômica). Nesse trabalho utilizamos técnicas de processamento de sinal baseadas em wavelets para aumentar contraste eletrônico em nanoestruturas de óxido de cério observadas utilizando STM, assim como uma análise do tratamento realizado. Um script desenvolvido usando MATLAB, que trata automaticamente um grande número de imagens de STM e AFM usando decomposição por Wavelet, será discutido e analizado. Especial destaque é dado à melhoria de contraste nas imagens.pt_BR
dc.description.resumoNanostructures are physical objects with a large surface/volume ratio, with one or more dimensions in the nanometer scale. An important example of these structures is the bidimensional materials, such as Graphene, Cerium Oxide, etc. Using a cerium oxide sample in HOPG substrate, obtained by pulsating laser deposition (PLD), it is possible to observe nanostructures. Using Scanning Tunneling Microscope (STM) techniques at selected bias we are able to obtain images of these nanostructures at a specific local density of state condition. This allows us to study the electronic phenomena and interactions with the substrate. Through the use of image processing and filtering techniques, such as Wavelet and Fourier transforms, it is possible to significantly improve the quality of the images obtained, allowing a deeper study of surface features to be done. This improvement is crucial since it may be used to enhance the contrast of electronic/magnetic/electrostatic response in STM and Atomic Force Microscope (AFM) images. In this work I will depict processed images of cerium oxide nanostructures using STM, as well as an analysis of the treatment performed. A script developed using MATLAB, automatically treating a large number of STM and AFM images using Wavelet decomposition, will be discussed and analyzed. Particular emphasis is given to improvements on image quality and contrast.pt_BR
dc.description.sponsorshipCNPq - Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológicopt_BR
dc.description.sponsorshipCAPES - Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superiorpt_BR
dc.languageengpt_BR
dc.publisherUniversidade Federal de Minas Geraispt_BR
dc.publisher.countryBrasilpt_BR
dc.publisher.departmentICX - DEPARTAMENTO DE FÍSICApt_BR
dc.publisher.programPrograma de Pós-Graduação em Físicapt_BR
dc.publisher.initialsUFMGpt_BR
dc.rightsAcesso Abertopt_BR
dc.subjectWaveletspt_BR
dc.subjectScanning tunneling microscopy/spectroscopypt_BR
dc.subjectData processingpt_BR
dc.subjectImage processingpt_BR
dc.subjectNanostructurespt_BR
dc.subjectCerium oxidept_BR
dc.subjectElectronic propertiespt_BR
dc.subject.otherWaveletspt_BR
dc.subject.otherMicroscopiapt_BR
dc.subject.otherEspectroscopia de tunelamentopt_BR
dc.subject.otherProcessamento de dadospt_BR
dc.subject.otherProcessamento de imagenspt_BR
dc.subject.otherNanoestruturapt_BR
dc.subject.otherPropriedades eletrônicaspt_BR
dc.titleA wavelet-based method to enhance spectroscopic contrast in STM imagespt_BR
dc.typeDissertaçãopt_BR
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