Determinação da estrutura atômica da superfície (001) de FeO e InSb via difração de elétrons
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Editor
Universidade Federal de Minas Gerais
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Tipo
Dissertação de mestrado
Título alternativo
Primeiro orientador
Membros da banca
Bismarck Vaz da Costa
Carlos Basilio Pinheiro
Maria Carolina de Oliveira Aguiar
Carlos Basilio Pinheiro
Maria Carolina de Oliveira Aguiar
Resumo
Este trabalho trata da determinação da estrutura atômica de dois sistemas específicos. O primeiro consistiu de um filme de FeO monocristalino de 22 monocamadas de espessura crescido em substrato de Ag na direção [001]. A análise estrutural foi feita através da difração de elétrons de baixa energia (LEED) e mostrou uma superfície (001) com parâmetro de rede igual ao que é esperado para a estrutura volumétrica do óxido, mas com um pequeno desnível (rumple) dos átomos da superfície (3.9% do parâmetro de rede) com os átomos de oxigênio movendo para fora do cristal. O segundo sistema estudado envolveu as reconstruções c(8x2) e c(4x4) da face (001) do composto semicondutor InSb, bem como a adsorção de átomos de paládio sobre a superfície. Para esses estudos foi usada a difração de fotoelétrons (PED) e XPS. Devido à necessidade de longo tempo para a realização dos cálculos não foi possível chegar a um resultado conclusivo sobre as estruturas examinadas e assim, apenas uma análise parcial dos dados experimentais é apresentada.
Abstract
S
Assunto
Propriedades de superfície, Física de superfícies, Estrutura atômica, Semicondutores, Difração de elétrons
Palavras-chave
Propriedades de superfícies, Estrutura atômica, Semicondutores, Difração de elétrons