Determinação da estrutura atômica da superfície (001) de FeO e InSb via difração de elétrons
| dc.creator | Elton Luz Lopes | |
| dc.date.accessioned | 2019-08-11T07:03:34Z | |
| dc.date.accessioned | 2025-09-08T23:30:28Z | |
| dc.date.available | 2019-08-11T07:03:34Z | |
| dc.date.issued | 2007-03-12 | |
| dc.description.abstract | S | |
| dc.identifier.uri | https://hdl.handle.net/1843/IACO-75VR9A | |
| dc.language | Português | |
| dc.publisher | Universidade Federal de Minas Gerais | |
| dc.rights | Acesso Aberto | |
| dc.subject | Propriedades de superfície | |
| dc.subject | Física de superfícies | |
| dc.subject | Estrutura atômica | |
| dc.subject | Semicondutores | |
| dc.subject | Difração de elétrons | |
| dc.subject.other | Propriedades de superfícies | |
| dc.subject.other | Estrutura atômica | |
| dc.subject.other | Semicondutores | |
| dc.subject.other | Difração de elétrons | |
| dc.title | Determinação da estrutura atômica da superfície (001) de FeO e InSb via difração de elétrons | |
| dc.type | Dissertação de mestrado | |
| local.contributor.advisor-co1 | Edmar Avellar Soares | |
| local.contributor.advisor1 | Vagner Eustaquio de Carvalho | |
| local.contributor.referee1 | Bismarck Vaz da Costa | |
| local.contributor.referee1 | Carlos Basilio Pinheiro | |
| local.contributor.referee1 | Maria Carolina de Oliveira Aguiar | |
| local.description.resumo | Este trabalho trata da determinação da estrutura atômica de dois sistemas específicos. O primeiro consistiu de um filme de FeO monocristalino de 22 monocamadas de espessura crescido em substrato de Ag na direção [001]. A análise estrutural foi feita através da difração de elétrons de baixa energia (LEED) e mostrou uma superfície (001) com parâmetro de rede igual ao que é esperado para a estrutura volumétrica do óxido, mas com um pequeno desnível (rumple) dos átomos da superfície (3.9% do parâmetro de rede) com os átomos de oxigênio movendo para fora do cristal. O segundo sistema estudado envolveu as reconstruções c(8x2) e c(4x4) da face (001) do composto semicondutor InSb, bem como a adsorção de átomos de paládio sobre a superfície. Para esses estudos foi usada a difração de fotoelétrons (PED) e XPS. Devido à necessidade de longo tempo para a realização dos cálculos não foi possível chegar a um resultado conclusivo sobre as estruturas examinadas e assim, apenas uma análise parcial dos dados experimentais é apresentada. | |
| local.publisher.initials | UFMG |
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