Determinação da estrutura atômica da superfície (001) de FeO e InSb via difração de elétrons

dc.creatorElton Luz Lopes
dc.date.accessioned2019-08-11T07:03:34Z
dc.date.accessioned2025-09-08T23:30:28Z
dc.date.available2019-08-11T07:03:34Z
dc.date.issued2007-03-12
dc.description.abstractS
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/1843/IACO-75VR9A
dc.languagePortuguês
dc.publisherUniversidade Federal de Minas Gerais
dc.rightsAcesso Aberto
dc.subjectPropriedades de superfície
dc.subjectFísica de superfícies
dc.subjectEstrutura atômica
dc.subjectSemicondutores
dc.subjectDifração de elétrons
dc.subject.otherPropriedades de superfícies
dc.subject.otherEstrutura atômica
dc.subject.otherSemicondutores
dc.subject.otherDifração de elétrons
dc.titleDeterminação da estrutura atômica da superfície (001) de FeO e InSb via difração de elétrons
dc.typeDissertação de mestrado
local.contributor.advisor-co1Edmar Avellar Soares
local.contributor.advisor1Vagner Eustaquio de Carvalho
local.contributor.referee1Bismarck Vaz da Costa
local.contributor.referee1Carlos Basilio Pinheiro
local.contributor.referee1Maria Carolina de Oliveira Aguiar
local.description.resumoEste trabalho trata da determinação da estrutura atômica de dois sistemas específicos. O primeiro consistiu de um filme de FeO monocristalino de 22 monocamadas de espessura crescido em substrato de Ag na direção [001]. A análise estrutural foi feita através da difração de elétrons de baixa energia (LEED) e mostrou uma superfície (001) com parâmetro de rede igual ao que é esperado para a estrutura volumétrica do óxido, mas com um pequeno desnível (rumple) dos átomos da superfície (3.9% do parâmetro de rede) com os átomos de oxigênio movendo para fora do cristal. O segundo sistema estudado envolveu as reconstruções c(8x2) e c(4x4) da face (001) do composto semicondutor InSb, bem como a adsorção de átomos de paládio sobre a superfície. Para esses estudos foi usada a difração de fotoelétrons (PED) e XPS. Devido à necessidade de longo tempo para a realização dos cálculos não foi possível chegar a um resultado conclusivo sobre as estruturas examinadas e assim, apenas uma análise parcial dos dados experimentais é apresentada.
local.publisher.initialsUFMG

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