A transformada de Hough aplicada à difração de elétrons retroespalhados
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Universidade Federal de Minas Gerais
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Monografia de especialização
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Carlos Henrique Costa Moreira
Paulo Antônio Fonseca Machado
Paulo Antônio Fonseca Machado
Resumo
Esta monografia tem como objetivo tratar da utilização da Transformada de Hough
aplicada à Difração de Elétrons Retroespalhados (EBSD). A técnica de EBSD utilizada no
microscópio eletrônico de varredura está baseada na interação do feixe de elétrons com a
amostra. Esta interação gera, entre outros fenômenos, uma difração dos elétrons característica
do sistema cristalino e respectivos parâmetros de rede da fase analisada da amostra.
Atualmente, a difração de elétrons (EBSD) é uma das mais importantes e poderosas técnicas
de análise de grãos nas área mínero-metalúrgica e em de ciências de materiais. As imagens produzidas são analisadas por um software que utiliza a Transformada de Hough como ferramenta fundamental para tratar os dados. Devido à eficácia desta Transformada em detectar formas geométricas, é possível aplica-la no desenvolvimento de programas que permitem, a partir da indexação dos planos cristalográficos, a identificação de fases e contornos de grãos, análise textural, entre outros aspectos. Este texto procura tratar de forma resumida os conhecimentos matemáticos e físicos que permitem compreender a utilização da Transformada de Hough em difração de elétrons retroespalhados.
Abstract
This monograph aims to address the use of the Hough Transform applied to Electron
Backscattered Diffraction (EBSD). The EBSD technique used in the scanning electron
microscope is based on the interaction of the electron beam with the sample. Among other
phenomena, this interaction causes a diffraction of electrons due to the crystalline
characteristic of the analyzed phase. Electron diffraction (EBSD) is nowadays one of the most
important and powerful techniques to analyze grains in the mineral, metallurgical and material
science areas. The images produced are analyzed by a software that uses the Hough Transform as a fundamental tool to index data. Due to the effectiveness of this transform to detect geometric
shapes, after indexing crystallographic planes, it allows phase and grain boundary identification, texture analysis, and other features.This monograph seeks to address briefly the physical and mathematical knowledge to understand how helpful it is to use the Hough Transform for EBSD.
Assunto
Matemática, Cristalografia, Transformações (Matemática), Difração de Elétrons
Palavras-chave
EBSD, Elétrons retroespalhados, Difração, Transformada de Hough
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