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http://hdl.handle.net/1843/BUOS-8GXJZC| Tipo: | Dissertação de Mestrado |
| Título: | Filmes cintiladores baseados em oxissulfeto de gadolínio |
| Autor(es): | Thiago de Lourenco e Vasconcelos |
| Primeiro Orientador: | Wagner Nunes Rodrigues |
| Primeiro membro da banca : | Carlos Basilio Pinheiro |
| Segundo membro da banca: | Luiz Alberto Cury |
| Resumo: | Neste trabalho, foi realizado um estudo sobre a influência da espessura de filmes cintiladores na intensidade de luz produzida por ele, tendo como motivação a otimização das propriedades desses filmes para aplicação em sistemas de imageamento de raios X na área medica. Para tanto, foram preparados filmes baseados em Gd2O2S pelo método de sedimentação e conformação mecânica. A caracterização da morfologia dos grãos e da espessura dos filmes produzidos com esses foi feita utilizando a técnica de microscopia eletrônica de varredura e microscopia óptica, respectivamente. As intensidades de luz produzidas, relativas a um filme comercial, foram medidas para cada filme produzido utilizando uma montagem onde os raios X são convertidos em luz visível, pelo filme cintilador, que por sua vez, é projetada em um sensor CMOS por meio de lentes ópticas. Um modelo teórico simples que relaciona a intensidade de luz produzida pelo filme e sua espessura foi gerado, e comparado com os dados experimentais. Desse estudo, são apresentados parâmetros estruturais que otimizam a eficiência de filmes cintiladores. Este trabalho também aponta outras modificações na preparação de filmes espessos que devem favorecer o aumento da luz produzida, bem como da qualidade de imagem gerada pelo sistema. |
| Abstract: | In this work, Gd2O2S based scintillators thick films were prepared using sedimentation and mechanical compression methods. The films produced were characterized using SEM and optical microscope. The light yield of each film was measured in a setup similar to the x-ray imaging system. In this system, x-ray is converted in light by a scintillator film. The light is converged into a CMOS sensor. A comparison between the experimental data and a simple theoretical model was performed. As a result, some modifications of the film preparation method and structural parameters were described. Using the optimized parameters for the scintillator film, enhanced light yield is observed. |
| Assunto: | Raio X Radiografia Diagnostico Propriedades ópticas Filmes cintiladores Física |
| Idioma: | Português |
| Editor: | Universidade Federal de Minas Gerais |
| Sigla da Instituição: | UFMG |
| Tipo de Acesso: | Acesso Aberto |
| URI: | http://hdl.handle.net/1843/BUOS-8GXJZC |
| Data do documento: | 28-Fev-2011 |
| Aparece nas coleções: | Dissertações de Mestrado |
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