Filmes cintiladores baseados em oxissulfeto de gadolínio

Thiago de Lourenco e Vasconcelos

Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/1843/BUOS-8GXJZC

Full metadata record

DC Field	Value	Language
dc.contributor.advisor1	Wagner Nunes Rodrigues	pt_BR
dc.contributor.referee1	Carlos Basilio Pinheiro	pt_BR
dc.contributor.referee2	Luiz Alberto Cury	pt_BR
dc.creator	Thiago de Lourenco e Vasconcelos	pt_BR
dc.date.accessioned	2019-08-10T20:22:01Z	-
dc.date.available	2019-08-10T20:22:01Z	-
dc.date.issued	2011-02-28	pt_BR
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/1843/BUOS-8GXJZC	-
dc.description.abstract	In this work, Gd2O2S based scintillators thick films were prepared using sedimentation and mechanical compression methods. The films produced were characterized using SEM and optical microscope. The light yield of each film was measured in a setup similar to the x-ray imaging system. In this system, x-ray is converted in light by a scintillator film. The light is converged into a CMOS sensor. A comparison between the experimental data and a simple theoretical model was performed. As a result, some modifications of the film preparation method and structural parameters were described. Using the optimized parameters for the scintillator film, enhanced light yield is observed.	pt_BR
dc.description.resumo	Neste trabalho, foi realizado um estudo sobre a influência da espessura de filmes cintiladores na intensidade de luz produzida por ele, tendo como motivação a otimização das propriedades desses filmes para aplicação em sistemas de imageamento de raios X na área medica. Para tanto, foram preparados filmes baseados em Gd2O2S pelo método de sedimentação e conformação mecânica. A caracterização da morfologia dos grãos e da espessura dos filmes produzidos com esses foi feita utilizando a técnica de microscopia eletrônica de varredura e microscopia óptica, respectivamente. As intensidades de luz produzidas, relativas a um filme comercial, foram medidas para cada filme produzido utilizando uma montagem onde os raios X são convertidos em luz visível, pelo filme cintilador, que por sua vez, é projetada em um sensor CMOS por meio de lentes ópticas. Um modelo teórico simples que relaciona a intensidade de luz produzida pelo filme e sua espessura foi gerado, e comparado com os dados experimentais. Desse estudo, são apresentados parâmetros estruturais que otimizam a eficiência de filmes cintiladores. Este trabalho também aponta outras modificações na preparação de filmes espessos que devem favorecer o aumento da luz produzida, bem como da qualidade de imagem gerada pelo sistema.	pt_BR
dc.language	Português	pt_BR
dc.publisher	Universidade Federal de Minas Gerais	pt_BR
dc.publisher.initials	UFMG	pt_BR
dc.rights	Acesso Aberto	pt_BR
dc.subject	Fillme espesso	pt_BR
dc.subject	Fosforo	pt_BR
dc.subject	Imageamento de raios X	pt_BR
dc.subject	Cintilador	pt_BR
dc.subject.other	Raio X	pt_BR
dc.subject.other	Radiografia Diagnostico	pt_BR
dc.subject.other	Propriedades ópticas	pt_BR
dc.subject.other	Filmes cintiladores	pt_BR
dc.subject.other	Física	pt_BR
dc.title	Filmes cintiladores baseados em oxissulfeto de gadolínio	pt_BR
dc.type	Dissertação de Mestrado	pt_BR
Appears in Collections:	Dissertações de Mestrado

Files in This Item:

File	Description	Size	Format
disserta__o_thiago_l._vasconcelos.pdf		37.99 MB	Adobe PDF	View/Open

Show simple item record